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书籍基本信息

书名：X射线晶体学基础（第二版）

ISBN：978-7-5603-5456-0

作者：李立中

出版社：科学出版社

出版时间：2018年

书籍页数：368页

推荐等级：8

豆瓣评分：8.9/276人

书籍特色

• 系统介绍X射线晶体学的基本原理和方法
• 结合实际案例，深入浅出地讲解晶体学实验技术
• 阐述晶体学在材料科学、生物科学等领域的应用

书籍简介

《X射线晶体学基础（第二版）》是一本系统介绍X射线晶体学基本原理、实验技术和应用领域的教材。本书内容丰富，结构清晰，适合晶体学及相关领域的本科生、研究生和科研工作者阅读。

本书共分为九章，内容包括X射线晶体学的基本原理、晶体结构测定方法、晶体结构解析、晶体学数据处理、晶体学应用等。书中还介绍了晶体学在材料科学、生物科学等领域的应用实例。

书籍目录

1. 引言
2. X射线晶体学基本原理
3. 晶体结构测定方法
4. 晶体结构解析
5. 晶体学数据处理
6. 晶体学应用
7. 晶体学实验技术
8. 晶体学软件
9. 晶体学进展

作者介绍：

李立中，博士，教授，博士生导师。长期从事晶体学及相关领域的研究，发表学术论文100余篇，主持和参与国家及省部级科研项目10余项。

书评：

用户1：这本书内容丰富，讲解清晰，适合晶体学及相关领域的读者阅读。推荐！

用户2：作者在书中结合实际案例，深入浅出地讲解了晶体学实验技术，非常实用。

用户3：这本书不仅介绍了晶体学的基本原理，还涵盖了晶体学在材料科学、生物科学等领域的应用，是一本值得推荐的书籍。

用户4：书中内容较为全面，但部分内容较为深入，可能对初学者有一定难度。

用户5：这本书是一本优秀的晶体学教材，适合作为本科生和研究生的教学参考书。

书籍影响：

《X射线晶体学基础（第二版）》作为一本晶体学领域的教材，对我国晶体学及相关领域的研究和人才培养起到了积极的推动作用。本书在学术界和工业界都获得了良好的口碑。

相关资源：

电子版：

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比较：

与其他晶体学教材相比，《X射线晶体学基础（第二版）》在内容全面性、实用性、可读性等方面具有一定的优势。同时，本书在晶体学实验技术、晶体学应用等方面的内容也较为丰富，适合不同层次的读者阅读。

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